ソリューション ファインダー

バーンイン工程

バーンインとは?

バーンインは、通常使用の前に障害を検出して信頼性を確保するために電子部品に対して行われる工程です。この工程は、高い温度で数時間連続的に電子機器に電子機器を通電して行います。

PDF をダウンロード: ゲート ドライバ用バーンイン

半導体の標準的な寿命と故障率は、バスタブ カーブによって正確に表すことができます。多くの障害は、動作寿命の初期段階に発生します (初期故障)。試験中の温度を上げることによって、故障のメカニズムが加速され、デバイスの初期障害を排除することができます。

Power Integrations のゲート ドライバ製品は、動作時間が 100,000 時間を超える厳しいアプリケーションをサポートします。工場のバーンイン工程により、潜在する大きな損害を防止し、総保有コストを軽減し、生産性を向上します。

バーンインのプロファイル

  • 100% 全数試験
  • 23 時間のバーンイン サイクル
  • -40℃から +85℃までの 3 サイクル (258 分)
  • 85℃で 1,092 分のドエル・タイム
  • 25 ℃で 30 分のオフ時間
  • お客様のニーズに応じたバーンイン プロファイル

主な特長

  • 内製化がもたらす課題の排除
  • 専門の下請け業者が不要
  • 故障率を最大 15 PPM まで低減
  • バーンインで保証期間を延長

用途

  • ミッションクリティカル及び高信頼性が求められるシステム
  • 輸送
  • 発電や送電